XPS as Characterization Tool for PV: From the Substrate to Complete III-V Multijunction Solar Cells

Gabás, M.; López-Escalante, M.C.; Algora del Valle, Carlos; Rey-Stolle Prado, Ignacio; Barrigón Montañés, Enrique; García Vara, Iván; Galiana Blanco, Beatriz; Palanco, S.; Bijani, S. y Ramos-Barrado, J.R. (2011). XPS as Characterization Tool for PV: From the Substrate to Complete III-V Multijunction Solar Cells. En: "37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC-2011", 19/06/2011 - 24/06/2011, Seattle, EEUU. ISBN 978-1-4244-9966-3. pp. 229-233.

Descripción

Título: XPS as Characterization Tool for PV: From the Substrate to Complete III-V Multijunction Solar Cells
Autor/es:
  • Gabás, M.
  • López-Escalante, M.C.
  • Algora del Valle, Carlos
  • Rey-Stolle Prado, Ignacio
  • Barrigón Montañés, Enrique
  • García Vara, Iván
  • Galiana Blanco, Beatriz
  • Palanco, S.
  • Bijani, S.
  • Ramos-Barrado, J.R.
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC-2011
Fechas del Evento: 19/06/2011 - 24/06/2011
Lugar del Evento: Seattle, EEUU
Título del Libro: Proceedings of the 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC-2011
Fecha: 2011
ISBN: 978-1-4244-9966-3
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Electrónica Física
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

This contribution aims to illustrate the potential of the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) technique as a tool to analyze different parts of a solar cell (surface state, heterointerfaces, profile composition of ohmic contacts, etc). Here, the analysis is specifically applied to III-V multijunction solar cells used in concentrator systems. The information provided from such XPS analysis has helped to understand the physico-chemical nature of these surfaces and interfaces, and thus has guided the technological process in order to improve the solar cell performance.

Más información

ID de Registro: 12522
Identificador DC: http://oa.upm.es/12522/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:12522
URL Oficial: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/mostRecentIssue.jsp?punumber=6177424
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 07 Ago 2012 10:00
Ultima Modificación: 23 Feb 2015 16:02
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