Individualization and Electrical Characterization of SiGe Nanowires

Monasterio, Manuel; Rodríguez Domínguez, Andrés; Rodríguez Rodríguez, Tomás y Ballesteros Pérez, Carmen Inés (2011). Individualization and Electrical Characterization of SiGe Nanowires. En: "Materials Research Society Symposium 2011", 28/11/2011 - 02/12/2011, Boston, MA, EEUU. pp. 1-6. https://doi.org/10.1557/opl.2012.33.

Descripción

Título: Individualization and Electrical Characterization of SiGe Nanowires
Autor/es:
  • Monasterio, Manuel
  • Rodríguez Domínguez, Andrés
  • Rodríguez Rodríguez, Tomás
  • Ballesteros Pérez, Carmen Inés
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: Materials Research Society Symposium 2011
Fechas del Evento: 28/11/2011 - 02/12/2011
Lugar del Evento: Boston, MA, EEUU
Título del Libro: Proceedings of Materials Research Society Symposium 2011
Fecha: 2011
Volumen: 1408
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Tecnología Electrónica [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

SiGe nanowires of different Ge atomic fractions up to 15% were grown and ex-situ n-type doped by diffusion from a solid source in contact with the sample. The phenomenon of dielectrophoresis was used to locate single nanowires between pairs of electrodes in order to carry out electrical measurements. The measured resistance of the as-grown nanowires is very high, but it decreases more than three orders of magnitude upon doping, indicating that the doping procedure used has been effective

Más información

ID de Registro: 13243
Identificador DC: http://oa.upm.es/13243/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:13243
Identificador DOI: 10.1557/opl.2012.33
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 29 Nov 2012 08:31
Ultima Modificación: 21 Abr 2016 12:33
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