Desarrollo de Circuitos y Subsistemas en Bandas Milimétricas. Análisis de su Viabilidad en Procesos de Producción.

Tejedor Álvarez, Luis Ángel (2006). Desarrollo de Circuitos y Subsistemas en Bandas Milimétricas. Análisis de su Viabilidad en Procesos de Producción.. Proyecto Fin de Carrera / Trabajo Fin de Grado, E.T.S.I. Telecomunicación (UPM), Madrid, España.

Descripción

Título: Desarrollo de Circuitos y Subsistemas en Bandas Milimétricas. Análisis de su Viabilidad en Procesos de Producción.
Autor/es:
  • Tejedor Álvarez, Luis Ángel
Director/es:
  • Alonso Montes, José Ignacio
Tipo de Documento: Proyecto Fin de Carrera/Grado
Fecha: 22 Septiembre 2006
Materias:
Palabras Clave Informales: Milimétricas, microstrip, transición, conector, circuito equivalente, deembedding, MIMIC, HMIC, MMIC, medidas, demostradores, condensador, gap, taladro metalizado, via hole, perla, discontinuidad, carrier, cinta de oro, fuzzbutton, viabilidad, tolerancias, sustrato, alúmina, Duroid
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Señales, Sistemas y Radiocomunicaciones
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - No comercial - Compartir igual

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Resumen

En los ´ultimos años están apareciendo nuevas aplicaciones que requieren utilizar la banda de milimétricas. Para que estas aplicaciones puedan extenderse de forma masiva, es necesario poder fabricar circuitos de forma barata, fiable y en grandes cantidades. Para poder trabajar a estas frecuencias hay que cuidar especialmente ciertos aspectos tecnológicos despreciables a frecuencias inferiores. Los sustratos, conectores, transiciones coaxial a microstrip, hilos de bonding, etc. son en milimétricas grandes discontinuidades que deben estudiarse detenidamente antes de abordar cualquier diseño. En este proyecto se analizan todas estas cuestiones clave. Una vez entendidas se han puesto en práctica con la construcción y caracterización de 4 demostradores básicos: línea microstrip de 50 ohmios, taladro metalizado, gap y condensador de desacoplo. Por último, se ha hecho una reflexión sobre la problemática de medir circuitos de tecnología planar en bandas milimétricas.

Más información

ID de Registro: 1521
Identificador DC: http://oa.upm.es/1521/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:1521
Depositado por: Sr. Luis Ángel Tejedor Álvarez
Depositado el: 07 Ene 2015 07:48
Ultima Modificación: 07 Ene 2015 07:48
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