Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs

Vázquez López, Manuel; Nogueira Díaz, Eduardo y Mateos, J. (2012). Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs. "Microelectronics Reliability", v. 52 (n. 9-10); pp. 1853-1858. ISSN 0026-2714. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.125.

Descripción

Título: Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs
Autor/es:
  • Vázquez López, Manuel
  • Nogueira Díaz, Eduardo
  • Mateos, J.
Tipo de Documento: Artículo
Título de Revista/Publicación: Microelectronics Reliability
Fecha: Septiembre 2012
Volumen: 52
Materias:
Escuela: E.U.I.T. Telecomunicación (UPM) [antigua denominación]
Departamento: Electrónica Física
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Specific tests to assess reliability of high luminosity AlInGaP LED for outdoor applications are needed. In this paper tests to propose a model involving three parameters: temperature, humidity and current have been carried out. Temperature, humidity and current accelerated model has been proposed to evaluate the reliability of this type of LED. Degradation and catastrophic failure mechanisms have been analyzed. Finally we analyze the effect of serial resistance in power luminosity degradation.

Más información

ID de Registro: 16229
Identificador DC: http://oa.upm.es/16229/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:16229
Identificador DOI: 10.1016/j.microrel.2012.06.125
URL Oficial: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271412003228
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 18 Nov 2013 20:13
Ultima Modificación: 21 Abr 2016 16:32
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