Ion-beam damage induced in SiO2: Excitonic mechanisms under heavy electronic excitation

Agullo Lopez, Fernando; Olivares, J.; Rivera de Mena, Antonio; Peña Rodríguez, Ovidio Y.; Manzano-Santamaría, J. y Crespillo Almenara, Miguel (2012). Ion-beam damage induced in SiO2: Excitonic mechanisms under heavy electronic excitation. En: "2º Workshop Programa TechnoFusión", 18/06/2012 - 19/06/2012, Madrid, España. pp. 1-11.

Descripción

Título: Ion-beam damage induced in SiO2: Excitonic mechanisms under heavy electronic excitation
Autor/es:
  • Agullo Lopez, Fernando
  • Olivares, J.
  • Rivera de Mena, Antonio
  • Peña Rodríguez, Ovidio Y.
  • Manzano-Santamaría, J.
  • Crespillo Almenara, Miguel
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: 2º Workshop Programa TechnoFusión
Fechas del Evento: 18/06/2012 - 19/06/2012
Lugar del Evento: Madrid, España
Título del Libro: 2º Workshop Programa TechnoFusión
Fecha: Junio 2012
Materias:
Escuela: Instituto de Fusión Nuclear (UPM)
Departamento: Otro
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

The Centro de Micro-Análisis de Materiales (CMAM) in the Universidad Autónoma de Madrid is carrying out an extensive research program on the processes induced by high energy heavy mass ions (SHI) on dielectric materials and their photonic applications [1?21]. A significant part of this activity constitutes a relevant contribution to the scientific program associated to the TECHNOFUSION project. It is performed in collaboration with the Instituto de Fusion Nuclear at the UPM, the CIEMAT, the Departamento de Física de Materiales at UAM and several other national institutions (INTA) and international laboratories (GANIL, France), Legnaro Italy, Grenoble?. The program has led to a large number of publications in reputed international journals.

Más información

ID de Registro: 20457
Identificador DC: http://oa.upm.es/20457/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:20457
URL Oficial: http://programa-technofusion.ciemat.es/TECHNOFUSIONportal/portal.do
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 05 Nov 2013 19:39
Ultima Modificación: 30 May 2017 16:09
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