Instrumentación de referencia para realización automática de ensayos de fiabilidad

Ramírez García, Jorge y García-Mochales Martínez, Jorge (2013). Instrumentación de referencia para realización automática de ensayos de fiabilidad. Proyecto Fin de Carrera / Trabajo Fin de Grado, E.U.I.T. Telecomunicación (UPM) [antigua denominación], Madrid.

Descripción

Título: Instrumentación de referencia para realización automática de ensayos de fiabilidad
Autor/es:
  • Ramírez García, Jorge
  • García-Mochales Martínez, Jorge
Director/es:
  • Nuñez Mendoza, Neftalí
Tipo de Documento: Proyecto Fin de Carrera/Grado
Fecha: 20 Marzo 2013
Materias:
Escuela: E.U.I.T. Telecomunicación (UPM) [antigua denominación]
Departamento: Electrónica Física
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

En todo proceso de desarrollo de un dispositivo electrónico o equipo cabe la necesidad de evaluar la fiabilidad de sus componentes, es decir, cual es el porcentaje de equipos que tras un determinado periodo de vida mantiene todas sus funcionalidades dentro de especificaciones. La evaluación de la fiabilidad mediante ensayos acelerados es la herramienta que permite una estimación de la vida del dispositivo o equipo de forma previa a su comercialización. La cuantificación de la fiabilidad es crítica para identificar los costos de un determinado periodo de garantía, y para ofrecer a los clientes el nivel de calidad deseado. El objetivo de este Proyecto Fin de Carrera, es el diseño de un sistema automático de instrumentación versátil, para la realización y caracterización de ensayos acelerados, el cual nos sirva para abordar una amplia gama de ensayos con los que evaluar la fiabilidad de los dispositivos electrónicos o equipos. Además del uso industrial donde se evaluará la fiabilidad de forma previa a la comercialización, este sistema se podrá emplear en la docencia de esta área, y fundamentalmente para la realización de ensayos acelerados en investigación de dispositivos electrónicos. La versatilidad de nuestro hardware y aplicación software es un punto a favor, ya que con este sistema de instrumentación se pueden realizar numerosos tipos de ensayos acelerados, sin el problema de tener que cambiar toda la instrumentación, cada vez que se quiera realizar otro ensayo distinto. Los componentes que se elijan para realizar el ensayo acelerado, serán sometidos a un estrés (tensión, corriente, humedad, temperatura…) y se podrá ir observando cómo envejecen, lo que nos permite evaluar la vida del dispositivo en un corto periodo, emulando sus condiciones de trabajo, además de estudiar la fiabilidad también se puede identificar como se degradan sus características principales antes del fallo. El Software utilizado en este Proyecto se ha implementado con un lenguaje de programación gráfico para instrumentación, LabVIEW. La aplicación software se explica de manera muy detallada a lo largo de la memoria, para que su uso y adaptación si fuese necesario no suponga ningún problema para el usuario. En la última parte de esta memoria se encuentra la guía de usuario y un ensayo acelerado planteado como ejemplo. Explicaremos como se han interconectado los equipos a los componentes en los que se va a realizar el ensayo y así se comprobará el correcto funcionamiento del software tomando las medidas necesarias. ABTRACT In all process of development of an electronic device or equipment, we have the need to evaluate the reliability of its components, that is to say, what percentage of equipment that after a certain period of life keeps all of its functionalities within specifications. The evaluation of reliability by means of accelerated tests is the tool that allows an estimation of the lifetime of the device or equipment prior to its marketing. The quantification of reliability is critical to identify the costs of a specific warranty period, and to offer customers the desired quality level. The objective of this Thesis is the design of an automatic very versatile instrument for the realization and characterization of accelerated tests, which will help us to address a wide range of tests to assess the reliability of the devices or electronic equipment. In addition to industrial use where test the reliability before its commercialization, use it can be used in teaching of this area, fundamentally for the realization of accelerated testing in the investigation of electronic devices. The versatility of our hardware and software implementation is a plus, given that this instrumentation system can perform numerous types of accelerated tests, without the problem to have to change everything, every time you want to make another different test. The components that will be chosen to perform the accelerated test, will be subjected to stress (voltage, current, humidity, temperature ...) and you can observe how they age, allowing us to evaluate the life of the device in a short period, emulating their working conditions. In addition to studying the reliability it can also identify how its main characteristics are degraded before failure. The software used in this Thesis has been implemented with a graphical programming language for instrumentation, LabVIEW. This software is explained in great detail throughout the Thesis, so that its use and adaptation, if necessary, will not be a problem for the user. In the last part of this memory we will expose a user guide and test that we have done. We will explain how the equipment has been interconnected to the components in which we are going to perform the test and so we will check the correct operation of the software taking the necessary measures.

Más información

ID de Registro: 21453
Identificador DC: http://oa.upm.es/21453/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:21453
Depositado por: Biblioteca Universitaria Campus Sur
Depositado el: 29 Oct 2013 08:11
Ultima Modificación: 21 Abr 2016 12:03
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