Los productos electrónicos simulados (SEP) para la determinación inmediata de las causas de daños por impacto en frutas y hortalizas.

Ruiz-Altisent, Margarita and Jaren Ceballos, Carmen and Muir, Andrew and Anderson, George (1991). Los productos electrónicos simulados (SEP) para la determinación inmediata de las causas de daños por impacto en frutas y hortalizas.. In: "23 Conferencia Internacional de Mecanización Agraria. 25 Feria Internacional de la Maquinaria Agrícola de Zaragoza (España)", 10-12, abril,1991, Zaragoza (España).

Description

Title: Los productos electrónicos simulados (SEP) para la determinación inmediata de las causas de daños por impacto en frutas y hortalizas.
Author/s:
  • Ruiz-Altisent, Margarita
  • Jaren Ceballos, Carmen
  • Muir, Andrew
  • Anderson, George
Item Type: Presentation at Congress or Conference (Article)
Event Title: 23 Conferencia Internacional de Mecanización Agraria. 25 Feria Internacional de la Maquinaria Agrícola de Zaragoza (España)
Event Dates: 10-12, abril,1991
Event Location: Zaragoza (España)
Title of Book: Conferencia Internacional de Mecanización Agraria
Date: 1991
Subjects:
Faculty: E.T.S.I. Agrónomos (UPM) [antigua denominación]
Department: Ingeniería Rural [hasta 2014]
UPM's Research Group: LPF-TAGRALIA
Creative Commons Licenses: Recognition - No derivative works - Non commercial

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Abstract

Dada la importancia económica que tienen las pérdidas de frutos por daños mecánicos y la creciente demanda de productos de calidad, se hace necesario contar con dispositivos para determinar rápidamente los puntos en que este tipo de daños se originan. Los daños por impacto se producen durante los procesos de recolección, manipulación y transporte de los productos agrícolas. Poder determinar la gravedad de los golpes producidos en cada caso es de gran importancia. Los SEPs (productos electrónicos simulados) miden y registran las fuerzas que intervienen en todo el proceso de manipulación de las frutas y hortalizas. De este modo, los puntos donde se producen fuerzas capaces de dañar al fruto pueden ser eliminados o modificados para evitar daños elevados y mejorar claramente la calidad y el valor del producto. En este articulo, se describen algunos de estos dispositivos electrónicos y los ensayos de laboratorio realizados para su calibración. Se discute su adaptación y posible utilización en nuestro país.

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Item ID: 21807
DC Identifier: http://oa.upm.es/21807/
OAI Identifier: oai:oa.upm.es:21807
Deposited by: Servicio Biblioteca Universitaria
Deposited on: 29 Nov 2013 09:05
Last Modified: 21 Apr 2016 12:33
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