Ensayos acelerados de dispositivos electrónicos LED

Pedruelo Bragado, Jesús (2013). Ensayos acelerados de dispositivos electrónicos LED. Proyecto Fin de Carrera / Trabajo Fin de Grado, E.U.I.T. Telecomunicación (UPM), Madrid.

Description

Title: Ensayos acelerados de dispositivos electrónicos LED
Author/s:
  • Pedruelo Bragado, Jesús
Contributor/s:
  • Nogueira Díaz, Eduardo
Item Type: Final Project
Date: 26 September 2013
Subjects:
Faculty: E.U.I.T. Telecomunicación (UPM)
Department: Electrónica Física
Creative Commons Licenses: Recognition - No derivative works - Non commercial

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Abstract

El objetivo de este proyecto es el de determinar, a través de una serie de medidas, los tiempos de vida y causas de fallo de diodos LED. Para ello, se someterá a los dispositivos a condiciones extremas de temperatura y humedad dentro de una cámara climática, con el objetivo de acelerar su edad, su tiempo de uso, hecho que provocará la aparición de los fallos mucho antes que en condiciones normales de funcionamiento. Se tomarán medidas tanto de su tensión y corriente para el análisis de las gráficas I-V, dentro y fuera de la cámara, como de las potencias luminosas de cada uno de ellos. Estas medidas se realizarán en dos ocasiones al día, en intervalos de no menos de 6 horas. Para las medidas de tensión y corriente se utilizará un programa desarrollado en el entorno de LabView, tanto para las medidas en el interior de la cámara, lo que nos permite un seguimiento específico del estado de los dispositivos en cada momento, como para las medidas fuera de ella. Para las medidas de la potencia luminosa de cada LED se utilizará un medidor de potencia óptica. Cada ensayo constará de 15 dispositivos LED, que se evaluarán en las mismas condiciones de temperatura y humedad. El resumen de los 8 ensayos realizados es el que sigue: - Ensayo 1: 140ºC 85% HUMEDAD a 10 mA. - Ensayo 2: 140ºC 70% HUMEDAD a 10 mA. - Ensayo 3: 120ºC 85% HUMEDAD a 10 mA. - Ensayo 4: 120ºC 85% HUMEDAD a 30 mA. - Ensayo 5: 140ºC 70% HUMEDAD a 30 mA. - Ensayo 6: 140ºC 85% HUMEDAD a 30 mA. - Ensayo 7: 140ºC 60% HUMEDAD a 30 mA. - Ensayo 8: 140ºC 85% HUMEDAD a 20 mA. Una vez tomadas las medidas, se analizarán los datos, de cara a obtener una ley de degradación del LED a través del análisis de Weibull y se estudiarán las diferentes causas de fallo. ABSTRACT. The aim of this Project is to determine, based on several measures, the lifetime and the causes of LED’s failures. The devices will be tested under extreme both temperature and humidity conditions in a Pressure Cooker, attempting to make faults to appear earlier. Voltage and current measures will be taken, inside and also outside the Pressure cooker, in order to use them in I-V graphs. In addition, luminous power measures for each LED will be taken. All those measures will be obtained twice a day, with 6 hours delay between both of them. A program based on LabView environment will be used to take voltage and current measures, inside and outside the pressure cooker, which allow us to follow the performance of the LED at each moment. The luminous power of each LED will be taken by a measurer. Each test consists of 15 LED devices, which will be evaluated under the same conditions each time. The 8 tests are as follows - Test 1: 140ºC 85% relative humidity at 10 mA. - Test 2: 140ºC 70% relative humidity at 10 mA. - Test 3: 120ºC 85% relative humidity at 10 mA. - Test 4: 120ºC 85% relative humidity at 30 mA. - Test 5: 140ºC 70% relative humidity at 30 mA. - Test 6: 140ºC 85% relative humidity at 30 mA. - Test 7: 140ºC 60% relative humidity at 30 mA. - Test 8: 140ºC 85% relative humidity at 20 mA. When the measures are completely taken, data will be analyzed, in order to obtain a LED’s degradation law using Weibull’s distribution. Also the causes of the failures will be evaluated.

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Item ID: 22411
DC Identifier: http://oa.upm.es/22411/
OAI Identifier: oai:oa.upm.es:22411
Deposited by: Biblioteca Universitaria Campus Sur
Deposited on: 14 Feb 2014 09:54
Last Modified: 21 Apr 2016 14:27
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