Calibración de Microscopios Confocales

Vicente y Oliva, Jesus de; Molpeceres Álvarez, Carlos Luis; Guarneiros, O. y García-Ballesteros Ramírez, Juan José (2008). Calibración de Microscopios Confocales. "Anales de Ingeniería Mecánica", v. 1. Año ; pp. 307-312. ISSN 0212-5072.

Descripción

Título: Calibración de Microscopios Confocales
Autor/es:
  • Vicente y Oliva, Jesus de
  • Molpeceres Álvarez, Carlos Luis
  • Guarneiros, O.
  • García-Ballesteros Ramírez, Juan José
Tipo de Documento: Artículo
Título de Revista/Publicación: Anales de Ingeniería Mecánica
Fecha: Febrero 2008
Volumen: 1. Año
Materias:
Palabras Clave Informales: Microscopía confocal, metrología, trazabilidad, calibración, incertidumbre, confocal microscopy, metrology, traceability, calibration, uncertainty.
Escuela: E.T.S.I. Industriales (UPM)
Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

Texto completo

[img]
Vista Previa
PDF (Document Portable Format) - Se necesita un visor de ficheros PDF, como GSview, Xpdf o Adobe Acrobat Reader
Descargar (364kB) | Vista Previa

Resumen

El microscopio confocal ha sido durante mucho tiempo un instrumento de observación tridimensional con múltiples aplicaciones especialmente dentro de la biología. Sin embargo en los últimos años ha comenzado a ser utilizado como instrumento de medida en diferentes áreas de la ingeniería. En la actualidad existen muchas especificaciones de productos (dimensionales, angulares, acabado superficial) en las escalas micrométricas y nanométricas que pueden o podrían ser verificadas utilizando este instrumento. Pero para que esta verificación sea válida dentro de un sistema de calidad el microscopio confocal debe ser trazable. Esta ponencia presenta una solución sencilla a este problema implementada en el Centro Láser de la Universidad Politécnica de Madrid (UPM) que ha permitido dotar de trazabilidad a las medidas dimensionales realizadas en el plano XY y en el eje Z de su microscopio confocal. The confocal microscope has been a three-dimensional observation instrument with multiple applications especially in biology. However in recent years has begun to be used as a measuring instrument contact in various engineering fields. At present there are many product specifications (size, angular, surface roughness) in the micrometer and nano scales that can or could be verified using this instrument. But this verification is only valid within a quality system if the confocal microscope is traceable. This paper presents a simple solution to this problem implemented in the Laser Centre of the Polytechnic University of Madrid (UPM). This solution provides traceablity to the size measurements made in the XY plane and the Z-axis.

Más información

ID de Registro: 2332
Identificador DC: http://oa.upm.es/2332/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:2332
URL Oficial: http://www.asoc-aeim.es/
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 18 May 2010 11:01
Ultima Modificación: 21 Ago 2017 11:45
  • Open Access
  • Open Access
  • Sherpa-Romeo
    Compruebe si la revista anglosajona en la que ha publicado un artículo permite también su publicación en abierto.
  • Dulcinea
    Compruebe si la revista española en la que ha publicado un artículo permite también su publicación en abierto.
  • Recolecta
  • e-ciencia
  • Observatorio I+D+i UPM
  • OpenCourseWare UPM