Calibración de Microscopios Confocales

Vicente y Oliva, Jesus de and Molpeceres Álvarez, Carlos Luis and Guarneiros, O. and García-Ballesteros Ramírez, Juan José (2008). Calibración de Microscopios Confocales. "Anales de Ingeniería Mecánica", v. 1. Año ; pp. 307-312. ISSN 0212-5072.

Description

Title: Calibración de Microscopios Confocales
Author/s:
  • Vicente y Oliva, Jesus de
  • Molpeceres Álvarez, Carlos Luis
  • Guarneiros, O.
  • García-Ballesteros Ramírez, Juan José
Item Type: Article
Título de Revista/Publicación: Anales de Ingeniería Mecánica
Date: February 2008
Volume: 1. Año
Subjects:
Freetext Keywords: Microscopía confocal, metrología, trazabilidad, calibración, incertidumbre, confocal microscopy, metrology, traceability, calibration, uncertainty.
Faculty: E.T.S.I. Industriales (UPM)
Department: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial [hasta 2014]
Creative Commons Licenses: Recognition - No derivative works - Non commercial

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Abstract

El microscopio confocal ha sido durante mucho tiempo un instrumento de observación tridimensional con múltiples aplicaciones especialmente dentro de la biología. Sin embargo en los últimos años ha comenzado a ser utilizado como instrumento de medida en diferentes áreas de la ingeniería. En la actualidad existen muchas especificaciones de productos (dimensionales, angulares, acabado superficial) en las escalas micrométricas y nanométricas que pueden o podrían ser verificadas utilizando este instrumento. Pero para que esta verificación sea válida dentro de un sistema de calidad el microscopio confocal debe ser trazable. Esta ponencia presenta una solución sencilla a este problema implementada en el Centro Láser de la Universidad Politécnica de Madrid (UPM) que ha permitido dotar de trazabilidad a las medidas dimensionales realizadas en el plano XY y en el eje Z de su microscopio confocal. The confocal microscope has been a three-dimensional observation instrument with multiple applications especially in biology. However in recent years has begun to be used as a measuring instrument contact in various engineering fields. At present there are many product specifications (size, angular, surface roughness) in the micrometer and nano scales that can or could be verified using this instrument. But this verification is only valid within a quality system if the confocal microscope is traceable. This paper presents a simple solution to this problem implemented in the Laser Centre of the Polytechnic University of Madrid (UPM). This solution provides traceablity to the size measurements made in the XY plane and the Z-axis.

More information

Item ID: 2332
DC Identifier: http://oa.upm.es/2332/
OAI Identifier: oai:oa.upm.es:2332
Official URL: http://www.asoc-aeim.es/
Deposited by: Memoria Investigacion
Deposited on: 18 May 2010 11:01
Last Modified: 21 Aug 2017 11:45
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