A 0.0016 mm(2) 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor

Ituero Herrero, Pablo; López Vallejo, Marisa y López Barrio, Carlos Alberto (2013). A 0.0016 mm(2) 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor. "Sensors", v. 13 (n. 9); pp. 12648-12662. ISSN 1424-8220. https://doi.org/10.3390/s130912648.

Descripción

Título: A 0.0016 mm(2) 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor
Autor/es:
  • Ituero Herrero, Pablo
  • López Vallejo, Marisa
  • López Barrio, Carlos Alberto
Tipo de Documento: Artículo
Título de Revista/Publicación: Sensors
Fecha: Septiembre 2013
Volumen: 13
Materias:
Palabras Clave Informales: Temperature sensor; CMOS; ratio-based; leakage; DTM (Dynamic Thermal Management)
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Ingeniería Electrónica
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

This paper presents a CMOS temperature sensor based on the thermal dependencies of the leakage currents targeting the 65 nm node. To compensate for the effect of process fluctuations, the proposed sensor realizes the ratio of two measures of the time it takes a capacitor to discharge through a transistor in the subthreshold regime. Furthermore, a novel charging mechanism for the capacitor is proposed to further increase the robustness against fabrication variability. The sensor, including digitization and interfacing, occupies 0.0016 mm2 and has an energy consumption of 47.7–633 pJ per sample. The resolution of the sensor is 0.28 °C, and the 3σ inaccuracy over the range 40–110 °C is 1.17 °C.

Más información

ID de Registro: 29526
Identificador DC: http://oa.upm.es/29526/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:29526
Identificador DOI: 10.3390/s130912648
URL Oficial: http://www.mdpi.com/1424-8220/13/9/12648
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 24 Jun 2014 19:12
Ultima Modificación: 21 Abr 2016 23:56
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