Raman spectroscopy in Group IV nanowires and nanowire axial heterostructures

Anaya, J.; Torres, A.; Jiménez, Juan; Rodríguez Domínguez, Andrés; Rodríguez Rodríguez, Tomás y Ballesteros Pérez, Carmen Inés (2014). Raman spectroscopy in Group IV nanowires and nanowire axial heterostructures. En: "Symposium SS/XX – Micro- and Nanoscale Systems – Novel Materials, Structures and Devices", 01/12/2013 - 06/06/2014, Boston, Massachusets. pp. 143-148. https://doi.org/10.1557/opl.2014.197.

Descripción

Título: Raman spectroscopy in Group IV nanowires and nanowire axial heterostructures
Autor/es:
  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Jiménez, Juan
  • Rodríguez Domínguez, Andrés
  • Rodríguez Rodríguez, Tomás
  • Ballesteros Pérez, Carmen Inés
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: Symposium SS/XX – Micro- and Nanoscale Systems – Novel Materials, Structures and Devices
Fechas del Evento: 01/12/2013 - 06/06/2014
Lugar del Evento: Boston, Massachusets
Título del Libro: MRS Proceedings
Fecha: 2014
Volumen: 1659
Materias:
Palabras Clave Informales: Nanostructure, Raman spectroscopy, Transmission Electron Microscopy (TEM)
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Tecnología Electrónica [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

The control of the SiGe NW composition is fundamental for the fabrication of high quality heterostructures. Raman spectroscopy has been used to analyse the composition of SiGe alloys. We present a study of the Raman spectrum of SiGe nanowires and SiGe/Si heterostructures. The inhomogeneity of the Ge composition deduced from the Raman spectrum is explained by the existence of a Ge-rich outer shell and by the interaction of the NW with the electromagnetic field associated with the laser beam.

Más información

ID de Registro: 29722
Identificador DC: http://oa.upm.es/29722/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:29722
Identificador DOI: 10.1557/opl.2014.197
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 19 Jul 2014 08:09
Ultima Modificación: 01 Jun 2015 22:56
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