Modeling sub-threshold slope and DIBL mismatch of sub-22nm FinFet

Royer del Barrio, Pablo y López Vallejo, Marisa (2013). Modeling sub-threshold slope and DIBL mismatch of sub-22nm FinFet. En: "8th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2013)", 27/11/2013 - 29/11/2013, San Sebastián, Spain.

Descripción

Título: Modeling sub-threshold slope and DIBL mismatch of sub-22nm FinFet
Autor/es:
  • Royer del Barrio, Pablo
  • López Vallejo, Marisa
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Charla)
Título del Evento: 8th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2013)
Fechas del Evento: 27/11/2013 - 29/11/2013
Lugar del Evento: San Sebastián, Spain
Título del Libro: 8th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2013)
Fecha: 2013
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Ingeniería Electrónica
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

A great challenge for future information technologies is building reliable systems on top of unreliable components. Parameters of modern and future technology devices are affected by severe levels of process variability and devices will degrade and even fail during the normal lifeDme of the chip due to aging mechanisms. These extreme levels of variability are caused by the high device miniaturizaDon and the random placement of individual atoms. Variability is considered a "red brick" by the InternaDonal Technology Roadmap for Semiconductors. The session is devoted to this topic presenDng research experiences from the Spanish Network on Variability called VARIABLES. In this session a talk entlited "Modeling sub-threshold slope and DIBL mismatch of sub-22nm FinFet" was presented.

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ID de Registro: 30582
Identificador DC: http://oa.upm.es/30582/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:30582
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 17 Sep 2014 19:04
Ultima Modificación: 22 Abr 2016 00:50
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