Evaluation of device reliability based on accelerated tests

Nogueira Díaz, Eduardo; Vázquez López, Manuel y Rodríguez Cano, David (2008). Evaluation of device reliability based on accelerated tests. En: "18th European Safety and Reliability Conference (ESREL 2008)", 22/09/2008-25/09/2008, Valencia, España. ISBN 978-0-415-48513-5.

Descripción

Título: Evaluation of device reliability based on accelerated tests
Autor/es:
  • Nogueira Díaz, Eduardo
  • Vázquez López, Manuel
  • Rodríguez Cano, David
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: 18th European Safety and Reliability Conference (ESREL 2008)
Fechas del Evento: 22/09/2008-25/09/2008
Lugar del Evento: Valencia, España
Título del Libro: Safety, Reliability and Risk Analysis : Theory, Methods and Applications
Fecha: 2008
ISBN: 978-0-415-48513-5
Materias:
Escuela: E.U.I.T. Telecomunicación (UPM) [antigua denominación]
Departamento: Electrónica Física
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Reliability evaluation based on degradation is very useful in systems with scarce failures. In this paper a new degradation model based on Weibull distribution is proposed. The model is applied to the degradation of Light Emitting Diodes (LEDs) under different accelerated tests. The results of these tests are in agreement with the proposed model and reliability function is evaluated.

Más información

ID de Registro: 3903
Identificador DC: http://oa.upm.es/3903/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:3903
URL Oficial: http://www.taylorandfrancis.com/books/details/9780415485135/
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 28 Jul 2010 11:31
Ultima Modificación: 20 Abr 2016 13:19
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