Electroreflectance characterization of AlInGaN/GaN high-electron mobility heterostructures

Bokov, P. Yu; Brazzini, Tommaso; Romero Rojo, Fátima; Calle Gómez, Fernando; Feneberg, Martin y Goldhahn, R. (2015). Electroreflectance characterization of AlInGaN/GaN high-electron mobility heterostructures. "Semiconductor Science and Technology", v. 30 (n. 8); pp. 1-6. ISSN 0268-1242. https://doi.org/10.1088/0268-1242/30/8/085014.

Descripción

Título: Electroreflectance characterization of AlInGaN/GaN high-electron mobility heterostructures
Autor/es:
  • Bokov, P. Yu
  • Brazzini, Tommaso
  • Romero Rojo, Fátima
  • Calle Gómez, Fernando
  • Feneberg, Martin
  • Goldhahn, R.
Tipo de Documento: Artículo
Título de Revista/Publicación: Semiconductor Science and Technology
Fecha: 2015
Volumen: 30
Materias:
Escuela: Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología (ISOM) (UPM)
Departamento: Otro
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Room temperature electroreflectance (ER) spectroscopy has been used to study the fundamental properties of AlxInyGa${}_{1-x-y}$N/AlN/GaN heterostructures under different applied bias. The (0001)-oriented heterostructures were grown by metal-organic vapor phase epitaxy on sapphire. The band gap energy of the AlxInyGa${}_{1-x-y}{\rm{N}}$ layers has been determined from analysis of the ER spectra using Aspnes' model. The obtained values are in good agreement with a nonlinear band gap interpolation equation proposed earlier. Bias-dependent ER allows one to determine the sheet carrier density of the two-dimensional electron gas and the barrier field strength.

Proyectos asociados

TipoCódigoAcrónimoResponsableTítulo
FP7PITN-GA-2008–213238RAINBOWSin especificarSin especificar
FP7CSD2009–00046RUESin especificarSin especificar
FP7TEC2012–38247CAVESin especificarSin especificar
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Gobierno de España14–02-31510Sin especificarMinisterio de Economía y CompetitividadSin especificar

Más información

ID de Registro: 40871
Identificador DC: http://oa.upm.es/40871/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:40871
Identificador DOI: 10.1088/0268-1242/30/8/085014
URL Oficial: http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0268-1242/30/8/085014/meta
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 07 Sep 2016 16:24
Ultima Modificación: 07 Sep 2016 16:24
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