Raman Spectroscopy of group IV nanostructured semiconductors: influence of size, temperature and stress.

Torres, A.; Martínez de Quel Pérez, Óscar; Prieto Colorado, Ángel Carmelo; Jiménez, Juan; Rodríguez Domínguez, Andrés; Sangrador García, Jesús y Rodríguez Rodríguez, Tomás (2009). Raman Spectroscopy of group IV nanostructured semiconductors: influence of size, temperature and stress.. En: "Applications of Group IV Semiconductor Nanostructures", 01/12/2008-05/12/2008, Boston, Massachusetts, EEUU.

Descripción

Título: Raman Spectroscopy of group IV nanostructured semiconductors: influence of size, temperature and stress.
Autor/es:
  • Torres, A.
  • Martínez de Quel Pérez, Óscar
  • Prieto Colorado, Ángel Carmelo
  • Jiménez, Juan
  • Rodríguez Domínguez, Andrés
  • Sangrador García, Jesús
  • Rodríguez Rodríguez, Tomás
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: Applications of Group IV Semiconductor Nanostructures
Fechas del Evento: 01/12/2008-05/12/2008
Lugar del Evento: Boston, Massachusetts, EEUU
Título del Libro: Online Published Proceedings of Applications of Group IV Semiconductor Nanostructures
Fecha: 2009
Volumen: 1145
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Tecnología Electrónica [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Group IV nanostructures have attracted a great deal of attention because of their potential applications in optoelectronics and nanodevices. Raman spectroscopy has been extensively used to characterize nanostructures since it provides non destructive information about their size, by the adequate modeling of the phonon confinement effect. However, the Raman spectrum is also sensitive to other factors, as stress and temperature, which can mix with the size effects borrowing the interpretation of the Raman spectrum. We present herein an analysis of the Raman spectra obtained for Si nanowires; the influence of the excitation conditions and the heat dissipation media are discussed in order to optimize the experimental conditions for reliable spectra acquisition and interpretation.

Más información

ID de Registro: 4404
Identificador DC: http://oa.upm.es/4404/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:4404
URL Oficial: http://www.mrs.org/s_mrs/sec_subscribe.asp?CID=16664&DID=216600
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 28 Sep 2010 09:58
Ultima Modificación: 20 Abr 2016 13:38
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