Monitorización Inteligente de los Procesos de Corte en la Nanoescala.

Toro Matamoros, Raúl Mario del y Haber Guerra, Rodolfo E. (2009). Monitorización Inteligente de los Procesos de Corte en la Nanoescala.. Monografía (Informe Técnico). E.T.S.I. Industriales (UPM).

Descripción

Título: Monitorización Inteligente de los Procesos de Corte en la Nanoescala.
Autor/es:
  • Toro Matamoros, Raúl Mario del
  • Haber Guerra, Rodolfo E.
Tipo de Documento: Monográfico (Informes, Documentos de trabajo, etc.) (Informe Técnico)
Fecha: Junio 2009
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Industriales (UPM)
Departamento: Automática, Ingeniería Electrónica e Informática Industrial [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

En la actualidad una de las claves de los procesos de fabricación es la generación de nuevos conocimientos técnicos y científicos a través del estudio e investigación aplicada del proceso de corte en la micro y nano-escala de aleaciones para aplicaciones aeronáuticas y aeroespaciales y el diseño de un sistema de monitorización inteligente y en red. En este informe se recoge una revisión del estado del arte en los campos y temáticas afines al proceso de corte en la micro y nanoescala, técnicas de inteligencia artificial y monitorización en red de procesos de fabricación. Igualmente se presenta el diseño e implementación de un sistema de monitorización del proceso de corte y la medición de las señales que lo caracterizan.

Más información

ID de Registro: 51513
Identificador DC: http://oa.upm.es/51513/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:51513
Depositado por: Dr. Rodolfo Haber
Depositado el: 05 Jul 2018 17:49
Ultima Modificación: 05 Jul 2018 17:49
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