Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements

Berzal Rubio, Miguel; Gómez, E.; Vicente Oliva, Jesús de; Caja García, Jesús y Barajas Fernandez, Cintia (2017). Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements. "Procedia Manufacturing", v. 13 ; pp. 442-449. ISSN 2351-9789. https://doi.org/10.1016/j.promfg.2017.09.042.

Descripción

Título: Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
Autor/es:
  • Berzal Rubio, Miguel
  • Gómez, E.
  • Vicente Oliva, Jesús de
  • Caja García, Jesús
  • Barajas Fernandez, Cintia
Tipo de Documento: Artículo
Título de Revista/Publicación: Procedia Manufacturing
Fecha: 2017
Volumen: 13
Materias:
Palabras Clave Informales: subpixel approximation; bayesian probability; optical measurement; uncertainty; Monte Carlo method
Escuela: E.T.S.I. Industriales (UPM)
Departamento: Física Aplicada e Ingeniería de Materiales
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Uncertainty determination can be obtained by two procedures: GUM and the Monte Carlo Method. This work presents a model that helps to evaluate the uncertainty in measurements collected by optical measuring machines when using the Monte Carlo method. Initially, the model converts intensity, using Bayesian probability, from the pixel image derived from camera into a polygonal area with three to five vertexes. The outer vertexes are fitted using least squares procedures to obtain a measurand shape approximation in a subpixel range. Algorithms have been programmed and verified into Matlab using synthetic images with different triangles. Through a detailed analysis, the usefulness of a new tool, the parameter, will be demonstrated as an alternative method for estimating uncertainty of measurements of pixel images.

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TipoCódigoAcrónimoResponsableTítulo
Gobierno de EspañaDPI2016-78476-PSin especificarSin especificarDesarrollo colaborativo de patrones de software y estudios de trazabilidad e intercomparación en la caracterización metrológica de superficies

Más información

ID de Registro: 53331
Identificador DC: http://oa.upm.es/53331/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:53331
Identificador DOI: 10.1016/j.promfg.2017.09.042
URL Oficial: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2351978917306777
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 10 Ene 2019 19:27
Ultima Modificación: 10 Ene 2019 19:27
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