Tunnel diode modeling, including nonlocal trap-assisted tunneling: A focus on III-V multijunction solar cell simulation

Baudrit, Mathieu y Algora del Valle, Carlos (2010). Tunnel diode modeling, including nonlocal trap-assisted tunneling: A focus on III-V multijunction solar cell simulation. "IEEE Transactions on Electron Devices", v. 57 (n. 10); pp. 2564-2571. ISSN 0018-9383. https://doi.org/10.1109/TED.2010.2061771.

Descripción

Título: Tunnel diode modeling, including nonlocal trap-assisted tunneling: A focus on III-V multijunction solar cell simulation
Autor/es:
  • Baudrit, Mathieu
  • Algora del Valle, Carlos
Tipo de Documento: Artículo
Título de Revista/Publicación: IEEE Transactions on Electron Devices
Fecha: Agosto 2010
Volumen: 57
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Electrónica Física
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Multijunction solar cells (MJCs) based on III-V semiconductors constitute the state-of-the-art approach for high-efficiency solar energy conversion. These devices, consisting of a stack of various solar cells, are interconnected by tunnel diodes. Reliable simulations of the tunnel diode behavior are still a challenge for solar cell applications. In this paper, a complete description of the model implemented in Silvaco ATLAS is shown, demonstrating the importance of local and nonlocal trap-assisted tunneling. We also explain how the measured doping profile and the metalization-induced series resistance influence the behavior of the tunnel diodes. Finally, we detail the different components of the series resistance and show that this can help extract the experimental voltage drop experienced by an MJC due to the tunnel junction. The value of this intrinsic voltage is important for achieving high efficiencies at concentrations near 1000 suns.

Más información

ID de Registro: 8397
Identificador DC: http://oa.upm.es/8397/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:8397
Identificador DOI: 10.1109/TED.2010.2061771
URL Oficial: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5546937&tag=1
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 25 Ago 2011 10:30
Ultima Modificación: 20 Abr 2016 17:12
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