Degradation of AlInGap red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests

Vázquez López, Manuel; Nuñez Mendoza, Neftali; Nogueira Díaz, Eduardo y Borreguero, A. (2010). Degradation of AlInGap red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests. En: "21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis", 11/10/2010 - 15/10/2010, Gaeta, Italia.

Descripción

Título: Degradation of AlInGap red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests
Autor/es:
  • Vázquez López, Manuel
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Nogueira Díaz, Eduardo
  • Borreguero, A.
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Sin especificar)
Título del Evento: 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Fechas del Evento: 11/10/2010 - 15/10/2010
Lugar del Evento: Gaeta, Italia
Título del Libro: Microelectronics Reliability. Proceedings of the 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Fecha: Septiembre 2010
Volumen: 50, Is
Materias:
Escuela: E.U.I.T. Telecomunicación (UPM) [antigua denominación]
Departamento: Electrónica Física
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

AlInGaP LEDs are widely used in illumination applications as automotive and signalization due their low consumption and high durability. In order to verify the high durability data it is necessary to consider not only catastrophic failures but also degradation. In this work LEDs degradation at different temperature and drive current accelerated tests have been analyzed. In all the tests we have carried out an exponential degradation trend have been observed. Temperature and drive current influence in degradation rate and reliability have been evaluated.

Más información

ID de Registro: 8407
Identificador DC: http://oa.upm.es/8407/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:8407
URL Oficial: http://www.sciencedirect.com/science/journal/00262714
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 25 Ago 2011 08:02
Ultima Modificación: 20 Abr 2016 17:12
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