Exportar: Analysis of the surface state of epi-ready Ge wafers

Gabás, M.; Palanco, S.; Bijani, S.; Barrigón Montañés, Enrique; Algora del Valle, Carlos; Rey-Stolle Prado, Ignacio; García Vara, Iván y Ramos-Barrado, J.R. (2012). Analysis of the surface state of epi-ready Ge wafers. "Applied Surface Science", v. 258 (n. 20); pp. 8166-8170. ISSN 0169-4332. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.05.015.

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