Exportar: Degradation mechanism analysis in temperature stress tests on III-V ultra-high concentrator solar cells using a 3D distributed model

Espinet González, Pilar; Algora del Valle, Carlos; González Ciprián, José Ramón; Nuñez Mendoza, Neftali y Vázquez López, Manuel (2010). Degradation mechanism analysis in temperature stress tests on III-V ultra-high concentrator solar cells using a 3D distributed model. "Microelectronics Reliability", v. 50 (n. 9-11); pp. 1875-1879. ISSN 0026-2714. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2010.07.128.

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