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Toro Matamoros, Raúl Mario del and Haber Guerra, Rodolfo E. (2009). Monitorización Inteligente de los Procesos de Corte en la Nanoescala.. Monografía (Technical Report). E.T.S.I. Industriales (UPM).
Title: | Monitorización Inteligente de los Procesos de Corte en la Nanoescala. |
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Author/s: |
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Item Type: | Monograph (Technical Report) |
Date: | June 2009 |
Subjects: | |
Faculty: | E.T.S.I. Industriales (UPM) |
Department: | Automática, Ingeniería Electrónica e Informática Industrial [hasta 2014] |
Creative Commons Licenses: | Recognition - No derivative works - Non commercial |
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En la actualidad una de las claves de los procesos de fabricación es la generación de nuevos conocimientos técnicos y científicos a través del estudio e investigación aplicada del proceso de corte en la micro y nano-escala de aleaciones para aplicaciones aeronáuticas y aeroespaciales y el diseño de un sistema de monitorización inteligente y en red. En este informe se recoge una revisión del estado del arte en los campos y temáticas afines al proceso de corte en la micro y nanoescala, técnicas de inteligencia artificial y monitorización en red de procesos de fabricación. Igualmente se presenta el diseño e implementación de un sistema de monitorización del proceso de corte y la medición de las señales que lo caracterizan.
Item ID: | 51513 |
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DC Identifier: | https://oa.upm.es/51513/ |
OAI Identifier: | oai:oa.upm.es:51513 |
Deposited by: | Dr. Rodolfo Haber |
Deposited on: | 05 Jul 2018 17:49 |
Last Modified: | 05 Jul 2018 17:49 |