Caracterización de módulos de silicio cristalino a sol real con baja incertidumbre

Abstract

Este artículo muestra la caracterización a sol real de módulos de silicio cristalino in situ teniendo en cuenta la dispersión de temperaturas para reducir la incertidumbre de este tipo de medidas. Además, se presenta un estudio de diferentes métodos de extrapolación de la potencia máxima a Condiciones Estándar de Medida (CEM) para determinar cuál de ellos conduce a la menor incertidumbre. Durante seis meses se ensayaron 16 módulos de dos generadores fotovoltaicos de 5 kWp, midiendo simultáneamente sus curvas I-V y sus temperaturas para corregir esta dispersión. Los resultados muestran que es preferible usar un método de extrapolación sensible a las diferencias de temperaturas existentes entre distintos módulos para reducir los valores de desviación estándar de la potencia máxima en CEM hasta un 0,2%, conduciendo a una desviación estándar promedio del 0,8%. ---------- ABSTRACT---------- This work presents the outdoor characterization of crystalline silicon modules in situ considering the temperature dispersion in order to reduce the uncertainty of the results of this kind of measurements. In addition, this paper shows the study of different extrapolation methods of the maximum power in Standard Test Conditions (STC) to determine which of those methods lead to the lowest uncertainty. So, 16 modules of two 5 kWp photovoltaic arrays were tested, simultaneously measuring their I-V curves and temperatures to correct that dispersion. According to the results, it’s preferable to use an extrapolation method sensible to the temperature differences between individual modules in order to reduce the standard deviation of the maximum power at STC up to a 0.2%, leading to an average standard deviation of 0.8%.