Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers

Parra Borderías, Maria; Fernández Martínez, Ivan; Fábrega, Lourdes; Camón, Agustin; Gil, Oscar; Costa Krämer, Jose L.; Gonzalez Arrabal, Raquel; Sesé, Javier y Briones Fernández-Pola, Fernando (2011). Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers. En: "EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada", 18/09/2011 - 23/09/2011, The Hague, Holanda.

Descripción

Título: Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers
Autor/es:
  • Parra Borderías, Maria
  • Fernández Martínez, Ivan
  • Fábrega, Lourdes
  • Camón, Agustin
  • Gil, Oscar
  • Costa Krämer, Jose L.
  • Gonzalez Arrabal, Raquel
  • Sesé, Javier
  • Briones Fernández-Pola, Fernando
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Póster)
Título del Evento: EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada
Fechas del Evento: 18/09/2011 - 23/09/2011
Lugar del Evento: The Hague, Holanda
Título del Libro: Proceedings of EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada
Fecha: 2011
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Industriales (UPM)
Departamento: Ingeniería Nuclear [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

We report on the sensitivity of the superconducting critical temperature (TC) to layer thickness, as well as on TC reproducibility in Mo/Au bilayers. Resistivity measurements on samples with a fixed Au thickness (dAu) and Mo thickness (dMo) ranging from 50 to 250 nm, and with a fixed dMo and different dAu thickness are shown. Experimental data are discussed in the framework of Martinis model, whose application to samples with dAu above their coherence length is analysed in detail. Results show a good coupling between normal and superconducting layers and excellent TC reproducibility, allowing to accurately correlate Mo layer thickness and bilayer TC.

Más información

ID de Registro: 12495
Identificador DC: http://oa.upm.es/12495/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:12495
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 08 Ago 2012 09:57
Ultima Modificación: 21 Abr 2016 11:45
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