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Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers
Cita
Parra Borderías, Maria, Fernández Martínez, Iván, Fábrega, Lourdes, Camón, Agustin, Gil, Oscar, Costa Krämer, Jose L., Gonzalez Arrabal, Raquel 
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-4955-1925, Sesé, Javier and Briones Fernández-Pola, Fernando
(2011).
Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers.
En: "EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada", 18/09/2011 - 23/09/2011, The Hague, Holanda.
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-4955-1925, Sesé, Javier and Briones Fernández-Pola, Fernando
(2011).
Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers.
En: "EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada", 18/09/2011 - 23/09/2011, The Hague, Holanda.
Descripción
| Título: | Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers |
|---|---|
| Autor/es: |
|
| Tipo de Documento: | Ponencia en Congreso o Jornada (Póster) |
| Título del Evento: | EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada |
| Fechas del Evento: | 18/09/2011 - 23/09/2011 |
| Lugar del Evento: | The Hague, Holanda |
| Título del Libro: | Proceedings of EUCAS 2011 exposición superconductividad aplicada |
| Fecha: | 2011 |
| Materias: | |
| ODS: | |
| Escuela: | E.T.S.I. Industriales (UPM) |
| Departamento: | Ingeniería Nuclear [hasta 2014] |
| Licencias Creative Commons: | Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial |
Resumen
We report on the sensitivity of the superconducting critical temperature (TC) to layer thickness, as well as on TC reproducibility in Mo/Au bilayers. Resistivity measurements on samples with a fixed Au thickness (dAu) and Mo thickness (dMo) ranging from 50 to 250 nm, and with a fixed dMo and different dAu thickness are shown. Experimental data are discussed in the framework of Martinis model, whose application to samples with dAu above their coherence length is analysed in detail. Results show a good coupling between normal and superconducting layers and excellent TC reproducibility, allowing to accurately correlate Mo layer thickness and bilayer TC.
Más información
| ID de Registro: | 12495 |
|---|---|
| Identificador DC: | https://oa.upm.es/12495/ |
| Identificador OAI: | oai:oa.upm.es:12495 |
| Depositado por: | Memoria Investigacion |
| Depositado el: | 08 Ago 2012 09:57 |
| Ultima Modificación: | 04 Mar 2024 10:58 |
Acciones
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