In-situ optical reflectance characterization of ion beam irradiation damage on crystalline (quartz) and amorphous (silica) SiO2

Crespillo Almenara, Miguel; Peña Rodríguez, Ovidio Y.; Manzano Santamaría, Javier; Rivera de Mena, Antonio; Jimenez Rey, D. y Agullo Lopez, Fernando (2012). In-situ optical reflectance characterization of ion beam irradiation damage on crystalline (quartz) and amorphous (silica) SiO2. En: "18th International Conference on Ion Beam Modifications of Materials (IBMM 2012)", 02/09/2012 - 07/09/2012, Quingdao, China. pp. 1-32.

Descripción

Título: In-situ optical reflectance characterization of ion beam irradiation damage on crystalline (quartz) and amorphous (silica) SiO2
Autor/es:
  • Crespillo Almenara, Miguel
  • Peña Rodríguez, Ovidio Y.
  • Manzano Santamaría, Javier
  • Rivera de Mena, Antonio
  • Jimenez Rey, D.
  • Agullo Lopez, Fernando
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Charla)
Título del Evento: 18th International Conference on Ion Beam Modifications of Materials (IBMM 2012)
Fechas del Evento: 02/09/2012 - 07/09/2012
Lugar del Evento: Quingdao, China
Título del Libro: 18th International Conference on Ion Beam Modifications of Materials (IBMM 2012)
Fecha: 2012
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Industriales (UPM)
Departamento: Ingeniería Nuclear [hasta 2014]
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Outline: • Motivation, aim • Complement waveguide data on silica • Optical data in quartz • Detailed analysis, i.e. both fluence kinetics and resolution • Efficiency of irradiation and analysis, samples, time... • Experimental set-up description • Reflectance procedure • Options: light source (lasers, white light..), detectors, configurations • Results and discussion • Comparative of amorphous and crystalline phases

Más información

ID de Registro: 19680
Identificador DC: http://oa.upm.es/19680/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:19680
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 08 Feb 2014 14:19
Ultima Modificación: 30 May 2017 16:11
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