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Consoli Barone, Antonio and Garcia Tijero, Jose Manuel and Esquivias Moscardo, Ignacio (2013). Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor. In: "VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013)", 10/07/2013 - 12/07/2013, Alcalá de Henares, España. pp. 213-218.
Title: | Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor |
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Author/s: |
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Item Type: | Presentation at Congress or Conference (Article) |
Event Title: | VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013) |
Event Dates: | 10/07/2013 - 12/07/2013 |
Event Location: | Alcalá de Henares, España |
Title of Book: | VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013) |
Date: | 2013 |
Subjects: | |
Freetext Keywords: | Factor de ensanchamiento de línea, láseres de semiconductor, diferencia ción óptica, frecuencia instantánea, interferómetro birrefringente, conmutación de ganancia |
Faculty: | E.T.S.I. Telecomunicación (UPM) |
Department: | Tecnología Fotónica [hasta 2014] |
Creative Commons Licenses: | Recognition - No derivative works - Non commercial |
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En el presente trabajo se propone un método para la medida y la estimación del error de la misma en la caracterización del factor de ensanchamiento de línea (parámetro α) de los láseres de semiconductor. La técnica propuesta se basa en el cálculo del parámetro α a partir de la medida de la intensidad y de la frecuencia instantánea de los pulsos generados por un laser de semiconductor conmutado en ganancia. El error de medida se estima mediante la comparación entre el espectro medido y el reconstruido utilizando los perfiles temporales de amplitud y fase de los pulsos generados. El método se ha aplicado a un laser DFB, obteniendo un error de medida menor del 5 %.
Item ID: | 29958 |
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DC Identifier: | http://oa.upm.es/29958/ |
OAI Identifier: | oai:oa.upm.es:29958 |
Deposited by: | Memoria Investigacion |
Deposited on: | 26 Jul 2014 08:24 |
Last Modified: | 22 Apr 2016 00:17 |