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Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor
Cita
Consoli Barone, Antonio, García Tijero, José Manuel 
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-7414-8855 and Esquivias Moscardo, Ignacio ORCID: https://orcid.org/0000-0001-7298-8271
(2013).
Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor.
En: "VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013)", 10/07/2013 - 12/07/2013, Alcalá de Henares, España. pp. 213-218.
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-7414-8855 and Esquivias Moscardo, Ignacio ORCID: https://orcid.org/0000-0001-7298-8271
(2013).
Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor.
En: "VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013)", 10/07/2013 - 12/07/2013, Alcalá de Henares, España. pp. 213-218.
Descripción
| Título: | Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor |
|---|---|
| Autor/es: |
|
| Tipo de Documento: | Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo) |
| Título del Evento: | VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013) |
| Fechas del Evento: | 10/07/2013 - 12/07/2013 |
| Lugar del Evento: | Alcalá de Henares, España |
| Título del Libro: | VIII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL 2013) |
| Fecha: | 2013 |
| Materias: | |
| ODS: | |
| Palabras Clave Informales: | Factor de ensanchamiento de línea, láseres de semiconductor, diferencia ción óptica, frecuencia instantánea, interferómetro birrefringente, conmutación de ganancia |
| Escuela: | E.T.S.I. Telecomunicación (UPM) |
| Departamento: | Tecnología Fotónica [hasta 2014] |
| Licencias Creative Commons: | Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial |
Resumen
En el presente trabajo se propone un método para la medida y la estimación del error de la misma en la caracterización del factor de ensanchamiento de línea (parámetro α) de los láseres de semiconductor. La técnica propuesta se basa en el cálculo del parámetro α a partir de la medida de la intensidad y de la frecuencia instantánea de los pulsos generados por un laser de semiconductor conmutado en ganancia. El error de medida se estima mediante la comparación entre el espectro medido y el reconstruido utilizando los perfiles temporales de amplitud y fase de los pulsos generados. El método se ha aplicado a un laser DFB, obteniendo un error de medida menor del 5 %.
Más información
| ID de Registro: | 29958 |
|---|---|
| Identificador DC: | https://oa.upm.es/29958/ |
| Identificador OAI: | oai:oa.upm.es:29958 |
| Depositado por: | Memoria Investigacion |
| Depositado el: | 26 Jul 2014 08:24 |
| Ultima Modificación: | 13 Mar 2024 09:04 |
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