A tool for the automatic analysis of single events effects on electronic circuits

García Redondo, Fernando; López Vallejo, Marisa; Royer del Barrio, Pablo y Agustín Saenz, Javier (2014). A tool for the automatic analysis of single events effects on electronic circuits. En: "5th European Workshop on CMOS Variability (VARI 2014)", 29/09/2014 - 01/10/2014, Palma de Mallorca, Spain. pp. 1-6. https://doi.org/10.1109/VARI.2014.6957082.

Descripción

Título: A tool for the automatic analysis of single events effects on electronic circuits
Autor/es:
  • García Redondo, Fernando
  • López Vallejo, Marisa
  • Royer del Barrio, Pablo
  • Agustín Saenz, Javier
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: 5th European Workshop on CMOS Variability (VARI 2014)
Fechas del Evento: 29/09/2014 - 01/10/2014
Lugar del Evento: Palma de Mallorca, Spain
Título del Libro: 5th European Workshop on CMOS Variability (VARI 2014)
Fecha: 2014
Materias:
Escuela: E.T.S.I. Telecomunicación (UPM)
Departamento: Ingeniería Electrónica
Licencias Creative Commons: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial

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Resumen

Nowadays integrated circuit reliability is challenged by both variability and working conditions. Environmental radiation has become a major issue when ensuring the circuit correct behavior. The required radiation and later analysis performed to the circuit boards is both fund and time expensive. The lack of tools which support pre-manufacturing radiation hardness analysis hinders circuit designers tasks. This paper describes an extensively customizable simulation tool for the characterization of radiation effects on electronic systems. The proposed tool can produce an in depth analysis of a complete circuit in almost any kind of radiation environment in affordable computation times.

Más información

ID de Registro: 36611
Identificador DC: http://oa.upm.es/36611/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:36611
Identificador DOI: 10.1109/VARI.2014.6957082
Depositado por: Memoria Investigacion
Depositado el: 22 Jul 2015 17:04
Ultima Modificación: 22 Jul 2015 17:04
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