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Module optical analyzer: Identification of defects on the production line
Cita
Herrero Martín, Rebeca 
ORCID: https://orcid.org/0000-0003-4309-6084, Askins, Stephen Alex ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9988-2917, Antón Hernández, Ignacio ORCID: https://orcid.org/0000-0002-6890-5477, Sala Pano, Gabriel ORCID: https://orcid.org/0000-0002-7016-3564, Araki, Kenji and Nagai, Hirokazu
(2014).
Module optical analyzer: Identification of defects on the production line.
En: "10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV-10)", 07/04/2014 - 09/04/2014, Albuquerque, New Mexico, USA. pp. 119-123.
https://doi.org/10.1063/1.4897042.
ORCID: https://orcid.org/0000-0003-4309-6084, Askins, Stephen Alex ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9988-2917, Antón Hernández, Ignacio ORCID: https://orcid.org/0000-0002-6890-5477, Sala Pano, Gabriel ORCID: https://orcid.org/0000-0002-7016-3564, Araki, Kenji and Nagai, Hirokazu
(2014).
Module optical analyzer: Identification of defects on the production line.
En: "10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV-10)", 07/04/2014 - 09/04/2014, Albuquerque, New Mexico, USA. pp. 119-123.
https://doi.org/10.1063/1.4897042.
Descripción
| Título: | Module optical analyzer: Identification of defects on the production line |
|---|---|
| Autor/es: |
|
| Tipo de Documento: | Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo) |
| Título del Evento: | 10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV-10) |
| Fechas del Evento: | 07/04/2014 - 09/04/2014 |
| Lugar del Evento: | Albuquerque, New Mexico, USA |
| Título del Libro: | 10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV-10) |
| Título de Revista/Publicación: | AIP Conference Proceedings |
| Fecha: | 2014 |
| ISSN: | 0094-243X |
| Número: | null |
| Materias: | |
| ODS: | |
| Palabras Clave Informales: | Solar concentrators, characterization, CCD |
| Escuela: | Instituto de Energía Solar (IES) (UPM) |
| Departamento: | Electrónica Física |
| Licencias Creative Commons: | Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial |
Resumen
The usefulness of the module optical analyzer when identifying module defects on production line is presented in this paper. Two different case studies performed with two different kind of CPV modules are presented to show the use of MOA both in IES-UPM and Daido Steel facilities.
Proyectos asociados
Tipo
Código
Acrónimo
Responsable
Título
FP7
283798
NGCPV
UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID
A new generation of concentrator photovoltaic cells, modules and systems
Comunidad de Madrid
S2009/ENE-1477
Sin especificar
Sin especificar
Sin especificar
Más información
| ID de Registro: | 38845 |
|---|---|
| Identificador DC: | https://oa.upm.es/38845/ |
| Identificador OAI: | oai:oa.upm.es:38845 |
| Identificador DOI: | 10.1063/1.4897042 |
| Depositado por: | Memoria Investigacion |
| Depositado el: | 18 Ene 2016 17:31 |
| Ultima Modificación: | 16 Abr 2026 07:00 |
Acciones
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