Common Pitfalls in Ontology Development

Poveda Villalon, Maria; Suárez-Figueroa, Mari Carmen y Gómez-Pérez, A. (2010). Common Pitfalls in Ontology Development. En: "The 13th Conference of the Spanish Association for Artificial Intelligence, CAEPIA 2009", Noviembre 2009, Sevilla, España. ISBN 13 978-3-642-14263-5.

Descripción

Título: Common Pitfalls in Ontology Development
Autor/es:
  • Poveda Villalon, Maria
  • Suárez-Figueroa, Mari Carmen
  • Gómez-Pérez, A.
Tipo de Documento: Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo)
Título del Evento: The 13th Conference of the Spanish Association for Artificial Intelligence, CAEPIA 2009
Fechas del Evento: Noviembre 2009
Lugar del Evento: Sevilla, España
Título del Libro: Current Topics in Artficial Intelligence, CAEPIA 2009 Selected
Fecha: 2010
ISBN: 13 978-3-642-14263-5
Volumen: LNAI 5
Materias:
Palabras Clave Informales: oeg
Escuela: Facultad de Informática (UPM) [antigua denominación]
Departamento: Inteligencia Artificial
Grupo Investigación UPM: Ontology Engineering Group – OEG
Licencias Creative Commons: Ninguna

Texto completo

[img]
Vista Previa
PDF (Document Portable Format) - Se necesita un visor de ficheros PDF, como GSview, Xpdf o Adobe Acrobat Reader
Descargar (132kB) | Vista Previa

Resumen

The so-called Ontology Design Patterns (ODPs), which have been defined as solutions to ontological design problems, are of great help to developers when modelling ontologies since these patterns provide a development guide and improve the quality of the resulting ontologies. However, it has been demonstrated that, in many cases, developers encounter difficulties when they have to reuse the correct design patterns and include errors in the modelling. Thus, to avoid pitfalls in ontology modelling, this paper proposes classifying errors into two types: (1) errors related to existing ODPs, called anti-patterns, and (2) errors not related to existing ODPs, called pitfalls. This classification is the result of analysing a set of ontologies. This paper is focused on the pitfalls identified during the analysis. In addition the paper presents a classification of the pitfalls found and a set of pitfall examples.

Más información

ID de Registro: 6115
Identificador DC: http://oa.upm.es/6115/
Identificador OAI: oai:oa.upm.es:6115
Depositado por: Dr Oscar Corcho
Depositado el: 22 Feb 2011 09:45
Ultima Modificación: 20 Abr 2016 14:44
  • Open Access
  • Open Access
  • Sherpa-Romeo
    Compruebe si la revista anglosajona en la que ha publicado un artículo permite también su publicación en abierto.
  • Dulcinea
    Compruebe si la revista española en la que ha publicado un artículo permite también su publicación en abierto.
  • Recolecta
  • e-ciencia
  • Observatorio I+D+i UPM
  • OpenCourseWare UPM