Texto completo
![[thumbnail of 10486807.pdf]](https://oa.upm.es/style/images/fileicons/application_pdf.png) |
PDF (Portable Document Format)
- Se necesita un visor de ficheros PDF, como GSview, Xpdf o Adobe Acrobat Reader
Descargar (4MB) |
Inspección Automática de superficies: Visión Artificial y otras técnicas
Cita
Fernández Andrés, José Carlos 
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-3004-1490, Platero Dueñas, Carlos ORCID: https://orcid.org/0000-0003-3712-8297, Campoy Cervera, Pascual ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9894-2009 and Aracil Santonja, Rafael ORCID: https://orcid.org/0000-0002-2988-057X
(1993).
Inspección Automática de superficies: Visión Artificial y otras técnicas.
En: "XIV Jornadas de Automática", 22/09/1993 - 24/09/1993, Cartagena, España.
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-3004-1490, Platero Dueñas, Carlos ORCID: https://orcid.org/0000-0003-3712-8297, Campoy Cervera, Pascual ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9894-2009 and Aracil Santonja, Rafael ORCID: https://orcid.org/0000-0002-2988-057X
(1993).
Inspección Automática de superficies: Visión Artificial y otras técnicas.
En: "XIV Jornadas de Automática", 22/09/1993 - 24/09/1993, Cartagena, España.
Descripción
| Título: | Inspección Automática de superficies: Visión Artificial y otras técnicas |
|---|---|
| Autor/es: |
|
| Tipo de Documento: | Ponencia en Congreso o Jornada (Artículo) |
| Título del Evento: | XIV Jornadas de Automática |
| Fechas del Evento: | 22/09/1993 - 24/09/1993 |
| Lugar del Evento: | Cartagena, España |
| Título del Libro: | XIV Jornadas de Automática |
| Fecha: | 22 Septiembre 1993 |
| Materias: | |
| ODS: | |
| Palabras Clave Informales: | Inspección visual automatizada |
| Escuela: | E.T.S.I. Diseño Industrial (UPM) |
| Departamento: | Ingeniería Eléctrica, Electrónica Automática y Física Aplicada |
| Licencias Creative Commons: | Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial |
Resumen
Se describe una arquitectura general, junto con una metodología, para la detección y análisis de defectos en superficies producidas en proceso continuo. La exigencia de inspección en tiempo real del 100% del producto, junto con las características de inspección en una superficie con textura fuerzan el desarrollo de algoritmos optimizados de detección y clasificación, así como de arquitecturas con un elevado grado de paralelismo para procesado de imágenes con alta velocidad.
Más información
| ID de Registro: | 95600 |
|---|---|
| Identificador DC: | https://oa.upm.es/95600/ |
| Identificador OAI: | oai:oa.upm.es:95600 |
| URL Portal Científico: | https://portalcientifico.upm.es/es/ipublic/item/10486807 |
| Depositado por: | iMarina Portal Científico |
| Depositado el: | 20 Abr 2026 08:15 |
| Ultima Modificación: | 21 Abr 2026 11:14 |
Acciones
- Estadísticas
- Exportar cita
- Editar (sólo personal del Archivo)
